01-25

2024

“全新 ‘Lumina AT2-U’：为你照亮未来的灯塔”

全新 \"Lumina AT2-U\"：为你照亮未来的灯塔随着科技的不断进步，人们对于生活质量的要求也越来越高。而照明作为人们生活中不可或缺的一部分，也逐渐变得更加重要。为了满足人们对于高品质照明的需...

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2024

《光明 AT-AUTO：引领智能出行的未来》

《光明 AT-AUTO：引领智能出行的未来》智能科技的快速发展，给出行方式带来了翻天覆地的变化。在这个愈发繁忙的都市生活中，人们对出行的需求越来越高。传统的交通工具已经不能满足人们对快捷、安全、舒适出...

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2024

‘光辉AT2-EFEM’

光辉AT2-EFEM：打造高效能的智能电子材料检测系统随着科技的进步和电子行业的迅猛发展，电子材料的质量和稳定性检测越来越成为企业关注的重点。为了满足市场需求，光辉公司推出了全新的智能电子材料检测系统...

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2024

现代化工业中的SiC缺陷检测仪：提高生产效率的利器

现代化工业中的SiC缺陷检测仪：提高生产效率的利器随着现代化工业的发展，对材料品质的要求越来越高。硅碳化物（SiC）是一种具有优异性能的新兴材料，广泛应用于电子、能源、汽车等领域。然而，SiC材料的生...

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2024

线共焦测试仪器的原理及应用简介

线共焦测试仪器是一种用于检测光学线共焦的仪器，它的主要原理是利用光学共焦的特性来确定光学系统的成像质量。线共焦测试仪器的应用范围广泛，可以用于检测光学系统的聚焦性能、像差、畸变等参数，对于提高光学系统...

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外延表面缺陷检测仪：实现智能化高效检测的利器

标题：外延表面缺陷检测仪：实现智能化高效检测的利器随着科技的不断发展，外延技术在半导体行业中得到了广泛应用。外延片在半导体器件制造过程中扮演着重要角色，而外延表面的缺陷则会直接影响器件的质量和性能。传...

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二代半导体缺陷检测报告：精准分析揭示缺陷问题

二代半导体缺陷检测报告：精准分析揭示缺陷问题在二代半导体领域中，缺陷问题一直是制约技术发展的一个重要因素。近期，一份新的缺陷检测报告引起了广泛关注，该报告通过精准分析揭示了二代半导体的缺陷问题，为解决...

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2024

SiC缺陷检测仪：实时监测与分析碳化硅缺陷的先进设备

SiC缺陷检测仪：实时监测与分析碳化硅缺陷的先进设备近年来，碳化硅（SiC）材料在电力电子、光电子和半导体等领域中得到了广泛应用。然而，由于SiC材料的特殊性质，包括高温、高耐压和高导热性能，其制造过...

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2024

TTV测试仪：精准测量中文行业的技术挑战者

TTV测试仪：精准测量中文行业的技术挑战者近年来，随着中文行业的迅猛发展，对于中文文字的测量和分析需求也越来越大。在这个背景下，TTV（Text-to-Vector）测试仪应运而生，成为中文行业中的一...