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平面度/平整度(面型)
FocalSpec CT Series
● 重复精度50纳米;
● 完美适应“透明","高反光" 等复杂表面材料
● 可测量平面度、粗糙度、轮廓台阶等3D尺寸
● 最大扫描成像 视场 300*300mm(兼容12" wafer)
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光谱共聚焦3D轮廓仪
♦ 适用于透明/高反光 等复杂样品表面的扫描成像
♦ 最大扫描重复精度可达 50nm
♦ 2D平面尺寸,3D轮廓高低台阶,3D平面度面型测量,表面粗糙度 测试,3D-CAD对比功能,线轮廓度,面轮廓度等
♦ 灵活测试方案,可以做产线自动化订制;实现在线全检。
♦ 最大拼接视野 可达300*300mm
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透明玻璃/高反光金属 手机混合类材料3D检测/测量
平面度/平整度测试/ BGA植绒球
大视野下 纳米级 粗糙度表面分析
KLA-Profilm 3D
● 亚纳米级别精度下,
● 最大可实现厘米级视野(自动拼接)
● 平面度/平整度/面型测量,涵盖粗糙度,台阶轮廓等测量功能;
(KLA知名品牌,售价低,高性价比)
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MicroProf@半/全自动系列
● 纳米级别精度下,
● 最大可满足12寸晶圆全幅面测量
● 平面度/平整度/面型测量,涵盖TTV BOW WARP,粗糙度,膜厚等测量功能
(适用实验离线分析 和 产线线上全自动分析)
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