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测量项目

PARK FX40
亚纳米 全自动原子力显微镜

PARK FX40

全过程 自动化操作 产线流水设计
全自动更换探针
双摄像头 自动识别扫码
自动激光校准 全过程自动化操作
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PARK XE7
亚纳米 半自动原子力显微镜

PARK XE7

创新研究的经济之选
所独有的True Non-Contact™模式
开源的设计 允许您整合其他附件
简洁的图形用户界面和自动化工具
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PARK NX10
亚纳米 半自动原子力显微镜

PARK NX10

创新研究的最佳途径
独有的True Non-Contact™模式 可编程自动化测量
Park消除串扰技术 亚纳米可靠性
扫描离子电导显微镜模块 丰富应用领域
性价比高 经济首选
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PARK NX12
亚纳米 半自动原子力显微镜

PARK NX12

用于分析化学 最全面的AFM
电化学测试的绝佳平台
原子力显微镜(AFM)有纳米级分辨率成像以及电、磁、热和机器性能测量的能力。
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Tencor™ P-7
纳米级 全自动接触式台阶仪

Tencor™ P-7

全自动 接触式台阶仪
全自动 更高精度 更高效率
全电动150mmXY级、Z级,360° θ阶段
垂直范围1.2mm
顶部模式识别视图或侧视图测量可视化
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Tencor™ D-300
纳米级 半自动接触式台阶仪

Tencor™ D-300

手动型接触式台阶仪
粗糙度 台阶高精度测量的经济首选
手动140mm平台
垂直范围1mm
用于测量可视化的侧视图光学系统
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Tencor™ D-600
纳米级 半自动接触式台阶仪

Tencor™ D-600

半自动接触式台阶仪
粗糙度 台阶高精度测量的高性价比
XY自动平台 200mm平台
垂直范围1.2mm
用于测量可视化的侧视图光学系统
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Lumina AT1系列
激光 表面缺陷分析 Lumina AT

Lumina AT1系列

品 牌 :Lumina
型 号 :AT1/2
产 地 :美国
采用光学表面分析(OSA)专用技术的自动特征缺陷(DOI)检测与分类系统。
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Lumina AT2系列
激光 表面缺陷分析 Lumina AT2

Lumina AT2系列

推荐理由: * 速度提升5倍
● 最高分辨率可达 100nm PSL
● 全幅面 扫描 最大视场可达450*450mm
● 软件自动分筛统计”划痕,凹凸点,沾污,颗粒"等缺陷
● 透明样品 可实现空间缺陷点位(夹层缺陷判别)
● 样品无形状要求(不要求圆片)
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咨询热线:400-1059178

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    团队超20年的从业经验,熟知光学、光谱、电性等行业测试,我会在最快的时间与您联络;

销售:廖经理

手机:18620906383