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    销售：廖经理

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    测量项目

    PARK FX40
    亚纳米 全自动原子力显微镜

    PARK FX40

    全过程 自动化操作 产线流水设计
    全自动更换探针
    双摄像头 自动识别扫码
    自动激光校准 全过程自动化操作
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    PARK XE7
    亚纳米 半自动原子力显微镜

    PARK XE7

    创新研究的经济之选
    所独有的True Non-Contact™模式
    开源的设计 允许您整合其他附件
    简洁的图形用户界面和自动化工具
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    PARK NX10
    亚纳米 半自动原子力显微镜

    PARK NX10

    创新研究的最佳途径
    独有的True Non-Contact™模式 可编程自动化测量
    Park消除串扰技术 亚纳米可靠性
    扫描离子电导显微镜模块 丰富应用领域
    性价比高 经济首选
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    PARK NX12
    亚纳米 半自动原子力显微镜

    PARK NX12

    用于分析化学 最全面的AFM
    电化学测试的绝佳平台
    原子力显微镜(AFM)有纳米级分辨率成像以及电、磁、热和机器性能测量的能力。
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    Tencor™ P-7
    纳米级 全自动接触式台阶仪

    Tencor™ P-7

    全自动 接触式台阶仪
    全自动 更高精度 更高效率
    全电动150mmXY级、Z级，360° θ阶段
    垂直范围1.2mm
    顶部模式识别视图或侧视图测量可视化
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    Tencor™ D-300
    纳米级 半自动接触式台阶仪

    Tencor™ D-300

    手动型接触式台阶仪
    粗糙度 台阶高精度测量的经济首选
    手动140mm平台
    垂直范围1mm
    用于测量可视化的侧视图光学系统
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    Tencor™ D-600
    纳米级 半自动接触式台阶仪

    Tencor™ D-600

    半自动接触式台阶仪
    粗糙度 台阶高精度测量的高性价比
    XY自动平台 200mm平台
    垂直范围1.2mm
    用于测量可视化的侧视图光学系统
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    Lumina AT1系列
    激光 表面缺陷分析 Lumina AT

    Lumina AT1系列

    品 牌 ：Lumina
    型 号 ：AT1/2
    产 地 ：美国
    采用光学表面分析（OSA）专用技术的自动特征缺陷（DOI）检测与分类系统。
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    Lumina AT2系列
    激光 表面缺陷分析 Lumina AT2

    Lumina AT2系列

    推荐理由： * 速度提升5倍
    ● 最高分辨率可达 100nm PSL
    ● 全幅面 扫描 最大视场可达450*450mm
    ● 软件自动分筛统计”划痕，凹凸点，沾污，颗粒"等缺陷
    ● 透明样品 可实现空间缺陷点位（夹层缺陷判别）
    ● 样品无形状要求（不要求圆片）
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