05-21

2022

Lumina 半导体应用

半导体、硅晶圆、图案化晶       薄膜缺陷     薄膜缺陷通常是由于工艺条件或涂覆薄膜之前留在表面上的先前污染而导致的涂层均匀性差而导致的薄膜缺...

03-17

2022

Filmetrics® R50系列 电阻测试仪 半导体应用

  金属薄膜均匀性 金属薄膜的电阻均匀性对于确保元件性能至关重要，大多数金属薄膜都可以通过4PP和EC进行测量。EC推荐用于较厚的高导电金属膜，4PP适用于较薄的金属膜(> 10Ω/s...

03-17

2022

FRT MicroProf®SERIES 产品介绍

    一台设备即可满足所有3D全景及微观形貌测量需求 4种光学像模式+AFM原子力模式       双探头 测试模式 解决双面厚度,双面面型,TTV...