首页 > 新闻中心
- “卓越表现！’lumina AT2-EFEM’中文版EFEM带给您全新体验”
- 卓越表现！\'lumina AT2-EFEM\'中文版EFEM带给您全新体验随着科技的不断发展，电子工业也日新月异。在这个竞争激烈的市场中，寻求卓越表现和不断创新成为每个企业的追求。作为一款新一代的E...
02-08
2024
- 硅衬底缺陷检测仪：高效准确地识别硅衬底缺陷
- 硅衬底缺陷检测仪：高效准确地识别硅衬底缺陷硅衬底缺陷检测仪是一种用于检测硅衬底上的缺陷的设备，它能够高效准确地识别硅衬底上的各种缺陷，为制造商提供了一个可靠的质量控制工具。硅衬底是半导体器件制造过程中...
02-08
2024
- “照亮黑暗：’lumina AT2’点燃未知路途的中文力量”
- 照亮黑暗：\'lumina AT2\'点燃未知路途的中文力量\"lumina AT2\"是一种全新的中文工具，它的诞生将为我们开辟一条通往未知路途的道路。作为中文的力量，它能够照亮黑暗，使我们在探索未...
02-08
2024
- ‘“露米娜 AT1-EFEM”：照亮你的世界的全新选择’
- 露米娜AT1-EFEM：照亮你的世界的全新选择随着科技的发展，照明行业也在不断创新与进步。如今，我们有幸迎来了一款全新的照明产品——露米娜AT1-EFEM，它将为我们的世界带来全新的选择。露米娜AT1...
02-08
2024
- 外延表面缺陷检测仪：提升外延片质量的关键利器
- 外延表面缺陷检测仪：提升外延片质量的关键利器外延片是半导体材料制备中不可或缺的部分，它在微电子、光电子等领域起着重要的作用。然而，外延片的质量往往会受到表面缺陷的影响，这些缺陷可能导致器件的性能下降甚...
02-08
2024
- “光明AT1：点亮未来的中国制造”
- 光明AT1：点亮未来的中国制造近年来，中国制造业以其高效、低成本和创新能力不断吸引着全球的目光。而在这个庞大的生产体系中，光明AT1又是一颗闪耀的明星，点亮着中国制造业的未来。光明AT1是一家专注于光...
02-08
2024
- 三代化合物半导体缺陷检测仪：先进技术助力高效检测
- 三代化合物半导体缺陷检测仪：先进技术助力高效检测近年来，随着半导体材料与器件技术的不断发展，三代化合物半导体材料在光电子器件、光伏电池等领域展现出了巨大的应用潜力。然而，由于三代化合物半导体材料的复杂...
02-08
2024
- “探索无限可能，全新 ‘lumina AT2-AUTO’ 带您驶向未来”
- 探索无限可能，全新\"Lumina AT2-AUTO\"带您驶向未来近年来，随着科技的不断发展，自动驾驶汽车成为了人们对未来交通的向往。作为一家致力于提供高科技汽车的领先品牌，我们荣幸地向大家介绍我们...
02-08
2024
- 外延表面缺陷检测仪：实时发现外延表面缺陷，确保产品质量
- 外延表面缺陷检测仪：实时发现外延表面缺陷，确保产品质量外延表面缺陷是半导体制造过程中常见的问题，如果不及时发现和修复，可能会导致产品性能下降甚至无法正常工作。为了提高产品质量和生产效率，外延表面缺陷检...
02-08
2024
