首页 > 新闻中心
- 氮化镓(GaN):半导体界的新贵
- 氮化镓(GaN)是一种半导体材料,近年来在半导体界崭露头角。由于其优异的电学特性和广泛的应用前景,GaN被誉为半导体界的新贵。GaN具有许多独特的特点,使其成为理想的半导体材料之一。首先,GaN具有较...
02-06
2024
- 三代化合物半导体缺陷检测仪:快速、精确、高效的材料质量评估工具
- 三代化合物半导体缺陷检测仪:快速、精确、高效的材料质量评估工具随着半导体材料的快速发展,三代化合物半导体材料作为一种新兴材料,具有广阔的应用前景。然而,由于制备过程中难以避免的缺陷问题,如晶格缺陷、杂...
02-06
2024
- ‘卢米纳AT1-EFEM:创新科技点亮未来’
- 卢米纳AT1-EFEM:创新科技点亮未来近年来,随着科技的飞速发展,我们的生活也发生了翻天覆地的变化。人们对于科技创新的需求越来越高,伴随着这种需求的增长,各种颠覆性的科技产品相继问世。其中,卢米纳A...
02-06
2024
- 全新二代半导体缺陷检测仪器亮相
- 全新二代半导体缺陷检测仪器亮相近日,全新二代半导体缺陷检测仪器在一场盛大的发布会上正式亮相。这一仪器采用了最新的技术和算法,为半导体行业的缺陷检测提供了全新的解决方案。半导体作为现代电子技术的基石,其...
02-06
2024
- 外延表面缺陷检测仪器: 保障外延工艺质量的关键设备
- 外延表面缺陷检测仪器是一种用于保障外延工艺质量的关键设备。外延工艺是半导体器件制造过程中的一环,其质量直接影响到最终产品的性能和可靠性。而外延表面缺陷是指外延片表面存在的缺陷,如裂纹、晶界错配、氧化层...
02-06
2024
- “全新Lumina AT2-AUTO:突破创新,引领智能化驾驶风潮”
- 全新Lumina AT2-AUTO:突破创新,引领智能化驾驶风潮随着科技的不断进步,智能化已经成为了各行各业的发展趋势。智能化驾驶作为汽车行业的重要组成部分,正日益受到人们的关注和追捧。在此背景下,全...
02-06
2024
- “探索’亮点AT1’:新一代人工智能技术的奇幻之旅”
- 《探索亮点AT1:新一代人工智能技术的奇幻之旅》人工智能(Artificial Intelligence,简称AI)作为当今科技领域最具前沿性和热门的技术之一,引发了无数人的关注和探索。而AT1则是新...
02-06
2024
- 化合物半导体缺陷检测仪:实时高效的半导体质量监测与分析
- 化合物半导体缺陷检测仪:实时高效的半导体质量监测与分析随着信息技术的快速发展,半导体材料作为电子器件的基础材料,扮演着越来越重要的角色。然而,半导体材料的质量问题一直是制约器件性能和可靠性的关键因素之...
02-06
2024
- 新研发的SiC缺陷检测仪助力高效检测与分析
- 新研发的SiC缺陷检测仪助力高效检测与分析近年来,随着电子设备的快速发展,对于功率电子器件的需求也越来越高。硅碳化物(SiC)作为一种新型的半导体材料,具有更高的工作温度、更高的耐压和更高的开关速度,...
02-06
2024