首页 > 新闻中心
- “全新硅衬底缺陷检测仪器助力品质保障”
- 全新硅衬底缺陷检测仪器助力品质保障随着科技的不断发展，硅衬底在半导体产业中扮演着重要的角色。然而，由于生产过程中的各种因素，硅衬底上往往会出现一些缺陷，如晶体缺陷、表面污染等，这些缺陷会对半导体器件的...
02-04
2024
- 外延表面缺陷检测仪器：精准便捷的缺陷探测利器
- 外延表面缺陷检测仪器：精准便捷的缺陷探测利器随着科技的不断进步，人们对于材料质量要求的提高，对于材料表面缺陷的检测也变得越来越重要。特别是对于外延材料的生产，表面缺陷的探测更是必不可少的环节。为了满足...
02-04
2024
- SiC缺陷测试：探索碳化硅材料的技术短板
- SiC缺陷测试：探索碳化硅材料的技术短板碳化硅（SiC）作为一种新兴材料，具有优异的机械、热学和电学性能，被广泛应用于能源、电子和光电等领域。然而，SiC材料的制备过程中常常会出现一些缺陷，这些缺陷可...
02-04
2024
- 高效准确的二代半导体缺陷检测仪器
- 高效准确的二代半导体缺陷检测仪器随着电子科技的快速发展，半导体材料在各个领域得到了广泛的应用。而作为二代半导体材料的一种重要代表，其在信息技术、光电子学、能源领域等发挥着重要的作用。然而，由于二代半导...
02-04
2024
- 化合物半导体缺陷检测仪：精准便捷识别缺陷的利器
- 化合物半导体缺陷检测仪：精准便捷识别缺陷的利器随着科技的不断发展，化合物半导体材料在光电子器件中的应用越来越广泛。然而，由于其特殊的晶体结构和复杂的原子组成，化合物半导体材料往往存在着各种缺陷，如空位...
02-04
2024
- “探索光明之旅：‘lumina AT1’引领未来科技”
- 探索光明之旅：‘lumina AT1’引领未来科技近年来，科技的飞速发展使得我们的生活变得越来越便利和智能化。在这个科技潮流中，光明科技公司推出的‘lumina AT1’引领着未来科技的发展方向。它不...
02-04
2024
- “探索中的光明：’lumina AT2-U’带来新的突破”
- 探索中的光明：\'lumina AT2-U\'带来新的突破随着时代的进步，科技的不断发展，人们对于灯光照明的需求也日益增加。与此同时，人们对照明的要求也越来越高，不仅要求明亮、节能，还要求照明效果更加...
02-04
2024
- 氮化镓表面缺陷检测仪：实时高精度缺陷分析技术
- 氮化镓是一种重要的半导体材料，具有广泛的应用前景。然而，在氮化镓材料的制备过程中，常常会出现一些表面缺陷，这些缺陷会严重影响材料的性能和品质。因此，开发一种实时高精度的氮化镓表面缺陷检测仪具有重要的研...
02-04
2024
- ‘鲁米纳AT2-EFEM：高性能电动车辆的新选择’
- 鲁米纳AT2-EFEM：高性能电动车辆的新选择随着电动车市场的不断发展，消费者对于电动车的需求也越来越高。然而，传统的电动车往往在续航里程和性能上存在一定的局限性，导致消费者对其不够满意。而鲁米纳AT...
02-04
2024
