400-1059178
首页 > 新闻中心
碳化硅(SiC):未来新材料的领军者
02-04
2024
碳化硅(SiC):未来新材料的领军者
碳化硅(SiC):未来新材料的领军者作为一种新兴的材料,碳化硅(SiC)在各个领域的应用逐渐成为热点。它具有优异的物理特性和化学稳定性,使其成为未来新材料的领军者。首先,碳化硅具有极高的熔点和热导率,...
电阻率测试仪器:准确测量电阻率的可靠设备
02-03
2024
电阻率测试仪器:准确测量电阻率的可靠设备
电阻率测试仪器是一种专门用于测量材料电阻率的设备,它的主要功能是通过测量材料的电阻和尺寸,计算出材料的电阻率。电阻率是材料特性的一个重要指标,它反映了材料导电性能的优劣。因此,准确测量电阻率对于材料的...
碳化硅(SiC):黑金属陶瓷的未来之路
02-03
2024
碳化硅(SiC):黑金属陶瓷的未来之路
碳化硅(SiC):黑金属陶瓷的未来之路碳化硅(SiC)是一种新型的材料,由硅和碳元素组成。它具有高硬度、高强度、高温稳定性和耐腐蚀等优异性能,被广泛应用于各个领域。在现代工业中,碳化硅已经成为黑金属陶...
硅衬底缺陷检测仪器:高精度激光扫描技术助力品质保障
02-03
2024
硅衬底缺陷检测仪器:高精度激光扫描技术助力品质保障
硅衬底缺陷检测仪器:高精度激光扫描技术助力品质保障硅衬底作为半导体制造过程中的重要组成部分,在芯片生产中起着至关重要的作用。然而,由于制造过程中的不可避免的因素,硅衬底上可能会存在一些缺陷,这些缺陷对...
氮化镓表面缺陷检测仪——高效精准的半导体质量监测设备
02-03
2024
氮化镓表面缺陷检测仪——高效精准的半导体质量监测设备
氮化镓是一种重要的半导体材料,在LED、激光器等领域有着广泛的应用。然而,氮化镓材料的表面缺陷常常会影响其电学和光学性能,因此需要进行精确的表面缺陷检测。近年来,氮化镓表面缺陷检测仪作为一种高效精准的...
GaN缺陷检测仪器:高能效材料质量保障的关键
02-03
2024
GaN缺陷检测仪器:高能效材料质量保障的关键
GaN缺陷检测仪器:高能效材料质量保障的关键近年来,氮化镓(GaN)材料在半导体行业中得到了广泛应用,其优异的性能使其成为高能效电子器件的首选材料。然而,GaN材料的制备过程中往往会引入一些缺陷,这些...
【产品介绍】’lumina AT1-EFEM’中文版:高亮度照明组件助力环境美化
02-03
2024
【产品介绍】’lumina AT1-EFEM’中文版:高亮度照明组件助力环境美化
【产品介绍】lumina AT1-EFEM中文版:高亮度照明组件助力环境美化随着城市化进程的不断加快,人们对于城市环境的美化需求也日益增长。在这样的背景下,lumina AT1-EFEM这款高亮度照明...
线光谱测试仪器:探索物质的光学特性的高精度工具
02-03
2024
线光谱测试仪器:探索物质的光学特性的高精度工具
线光谱测试仪器是一种用于探索物质光学特性的高精度工具。它通过测量物质在不同波长的光照射下的光的吸收、散射和透射等特性,来研究物质的组成、结构和性质。线光谱测试仪器广泛应用于物理、化学、材料科学等领域,...
SiC缺陷测试探索:深入挖掘新一代半导体材料的潜在问题
02-03
2024
SiC缺陷测试探索:深入挖掘新一代半导体材料的潜在问题
SiC 缺陷测试探索:深入挖掘新一代半导体材料的潜在问题近年来,随着半导体技术的迅猛发展,新一代半导体材料开始受到广泛关注。其中,碳化硅(SiC)作为一种广泛应用于高温、高频和高压条件下的半导体材料,...