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- 《SiC缺陷测试：探寻材料优劣的关键》
- 《SiC缺陷测试：探寻材料优劣的关键》硅碳化物（SiC）是一种重要的半导体材料，被广泛应用于高温、高功率和高频率的电子器件中。然而，由于其生长过程中难以避免的缺陷，SiC材料的质量控制成为了研究的重点...
02-03
2024
- 电阻率测试仪器：精准测量电导性能的高效工具
- 电阻率测试仪器：精准测量电导性能的高效工具电阻率测试仪器是一种用于测量材料电导性能的高效工具。它可以精确测量材料的电阻率，帮助工程师和科研人员了解材料的电导特性，从而为电子设备的设计和制造提供参考。电...
02-03
2024
- 氮化镓/GaN：未来半导体技术的新希望
- 氮化镓（GaN）作为一种新型半导体材料，被认为是未来半导体技术的新希望。随着科技的不断进步，人们对电子设备的需求也越来越高，而传统的硅材料已经不能满足高功率和高频率的需求。而氮化镓作为一种宽禁带半导体...
02-03
2024
- 二代半导体缺陷检测报告揭示行业瓶颈
- 二代半导体缺陷检测报告揭示行业瓶颈近年来，随着人工智能、物联网等新兴技术的迅猛发展，半导体行业成为推动科技进步的重要基石。然而，半导体制造过程中的缺陷问题一直是制约行业发展的重要瓶颈之一。最近，一份二...
02-03
2024
- 新型硅衬底缺陷检测仪：提升半导体质量控制的关键设备
- 新型硅衬底缺陷检测仪：提升半导体质量控制的关键设备近年来，随着半导体行业的快速发展，对半导体质量的要求也越来越高。而硅衬底作为半导体制造过程中的重要组成部分，其质量直接影响整个芯片的性能。因此，开发一...
02-03
2024
- 探索未知之光——’lumina AT1’在中国市场的亮相
- 探索未知之光——\'lumina AT1\'在中国市场的亮相近年来，随着人们对环境问题的关注度不断提升，对于可持续出行方式的需求也日益增加。在这样的背景下，电动汽车成为了众多消费者和厂商的新宠。然而，...
02-03
2024
- ‘Lumina AT2-EFEM: 全新高效能中文自动化测试系统’
- Lumina AT2-EFEM：全新高效能中文自动化测试系统随着科技的不断进步，自动化测试系统在各个行业中扮演着越来越重要的角色。而针对中文市场需求的自动化测试系统也越来越受到关注。Lumina AT...
02-03
2024
- 外延表面缺陷检测仪器：提升外延片质量的关键工具
- 外延表面缺陷检测仪器：提升外延片质量的关键工具外延片是一种用于制造半导体器件的重要材料，其质量直接影响着器件的性能和可靠性。而外延片在制备过程中可能会出现一些表面缺陷，如晶格缺陷、氧化物颗粒和金属杂质...
02-03
2024
- 化合物半导体缺陷检测仪：高效、精准的质量控制利器
- 化合物半导体缺陷检测仪：高效、精准的质量控制利器近年来，随着电子科技的不断发展，化合物半导体材料在光电子、能源存储等领域得到了广泛应用。然而，高性能化合物半导体材料的制备过程中往往伴随着各种缺陷的产生...
02-03
2024
