01-16

2024

SiC缺陷检测仪器：提升碳化硅产品品质的利器

SiC缺陷检测仪器：提升碳化硅产品品质的利器碳化硅（SiC）材料由于其优异的物理和化学性质，在电力电子、汽车电动化、光电子等领域得到了广泛的应用。然而，制造过程中的缺陷问题一直困扰着SiC材料的生产商...

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高效检测砷化镓缺陷的仪器

高效检测砷化镓缺陷的仪器砷化镓（GaAs）是一种常用的半导体材料，具有广泛的应用领域，如光电子器件、微波器件和太阳能电池等。然而，砷化镓材料中往往存在着一些缺陷，如晶格缺陷、气体杂质和点缺陷等，这些缺...

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2024

《SiC缺陷测试：发现问题，提升质量》

SiC缺陷测试：发现问题，提升质量近年来，随着电子行业的迅猛发展，SiC（碳化硅）材料作为一种新型半导体材料，受到了越来越多的关注。然而，由于其特殊结构和制备过程中的复杂性，SiC材料中常常存在着各种...

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线共焦测试仪器：实现高精度定位与测量的必备工具

线共焦测试仪器：实现高精度定位与测量的必备工具现代科学技术的发展为各行各业带来了许多便利和突破，其中测量技术的进步对于工业生产和科学研究具有重大意义。而在测量领域中，线共焦测试仪器作为一种高精度定位与...

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二代半导体缺陷检测仪：助力半导体行业质量提升

二代半导体缺陷检测仪：助力半导体行业质量提升近年来，半导体行业一直是全球科技领域的重要支柱，其产品广泛应用于电子设备、通信、汽车等众多领域。然而，随着科技进步的推动，半导体产品的需求量和质量要求也不断...

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2024

三代化合物半导体缺陷检测仪器：助力半导体行业实现高效质量控制

近年来，随着科技的不断发展，半导体行业成为了全球经济发展的重要支撑。而半导体的质量控制对于整个行业的发展至关重要。为了满足半导体行业对高效质量控制的需求，三代化合物半导体缺陷检测仪器应运而生。三代化合...

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线共焦测试仪器：实现高精度测量的利器

线共焦测试仪器：实现高精度测量的利器线共焦测试仪器是一种用于测量光学系统中的像差的精密仪器，它能够通过线共焦技术实现对光学系统像差的高精度测量。线共焦测试仪器在光学系统设计、制造和校正中起着至关重要的...

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‘灵动AT1-EFEM：开启全新驾驶体验’

灵动AT1-EFEM：开启全新驾驶体验近年来，汽车技术的发展突飞猛进，各大汽车厂商都在不断推陈出新，推出更加先进、智能的汽车产品。而灵动AT1-EFEM作为一款全新的驾驶体验，引起了广大消费者的极大兴...

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外延表面缺陷检测仪器：高效实现外延材料质量控制

外延表面缺陷检测仪器：高效实现外延材料质量控制外延材料作为半导体产业中的重要组成部分，其质量控制一直是研究人员关注的焦点之一。外延材料的质量直接影响到芯片的性能和稳定性。而外延表面缺陷是影响外延材料质...