首页 > 新闻中心
- 膜厚测试仪：精准测量薄膜厚度，助力品质控制
- 膜厚测试仪：精准测量薄膜厚度，助力品质控制薄膜在许多行业中被广泛应用，如电子、光学、塑料等。薄膜的厚度是其性能的关键参数之一，因此准确测量薄膜厚度对于品质控制至关重要。膜厚测试仪作为一种精密的测量设备...
08-03
2023
- 电阻率测试仪：精确测量电导性材料的导电性能
- 电阻率测试仪：精确测量电导性材料的导电性能导电性能是电导性材料的重要指标之一，它反映了材料中电流的传输能力。在电力、电子、通信等领域中，对导电性材料的导电性能进行准确测量十分关键。电阻率测试仪作为一种...
08-03
2023
- 外延厚度测试仪：准确评估外延材料厚度的关键工具
- 外延厚度测试仪：准确评估外延材料厚度的关键工具外延材料在半导体、光电子等领域有着广泛的应用。然而，外延材料的厚度对于其性能和质量至关重要。为了准确评估外延材料的厚度，科学家们研发了外延厚度测试仪，成为...
08-03
2023
- “探索未知：’lumina AT-EFEM’引领中文教育新时代”
- 探索未知：\'lumina AT-EFEM\'引领中文教育新时代随着中国在国际舞台上的崛起，中文的学习需求在全球范围内不断增长。然而，传统的中文教育模式已经无法满足当代学生的需求。在这个背景下，一家名...
08-03
2023
- 化合物半导体缺陷检测设备：提高半导体产品质量的利器
- 化合物半导体缺陷检测设备：提高半导体产品质量的利器随着科技的发展和需求的增长，半导体行业在全球范围内迅速发展。而半导体产品的质量对于整个行业的发展至关重要。为了提高半导体产品的质量，化合物半导体缺陷检...
08-03
2023
- 优化GaN材料质量控制：基于缺陷检测仪的新技术
- 优化GaN材料质量控制：基于缺陷检测仪的新技术摘要：氮化镓（GaN）材料在半导体行业中具有重要的应用价值，但其质量控制一直是一个挑战。本文介绍了一种基于缺陷检测仪的新技术，用于优化GaN材料的质量控制...
08-03
2023
- 晶圆厚度测试设备：精确测量半导体材料厚度的利器
- 晶圆厚度测试设备：精确测量半导体材料厚度的利器近年来，随着半导体产业的不断发展，对晶圆厚度的要求也越来越高。晶圆厚度的准确测量对于半导体材料的制造过程以及性能的评估至关重要。为了满足这一需求，晶圆厚度...
08-03
2023
- 砷化镓缺陷检测：一种潜在的半导体材料质量评估方法
- 砷化镓（GaAs）是一种重要的半导体材料，具有广泛的应用领域，如光电子器件、微波器件和高速电子器件等。然而，砷化镓材料中存在着各种缺陷，这些缺陷对材料的性能和质量产生重要影响。因此，砷化镓缺陷检测成为...
08-03
2023
- 外延表面缺陷检测方法：简析与优化
- 外延表面缺陷检测方法：简析与优化摘要：外延表面缺陷检测是半导体生产过程中的一项关键技术，其准确性和效率对产品质量和生产成本具有重要影响。本文对外延表面缺陷检测的方法进行了简析，并提出了一些优化方案，旨...
08-03
2023
