首页 > 新闻中心
- 晶圆厚度测试仪：精确测量半导体晶圆厚度的专业工具
- 晶圆厚度测试仪是一种专业工具，用于精确测量半导体晶圆的厚度。随着半导体技术的不断发展，晶圆厚度的精确测量显得尤为重要。本文将对晶圆厚度测试仪的原理、特点以及应用进行详细介绍。晶圆厚度测试仪是一种基于光...
07-28
2023
- 新一代SiC缺陷检测机助力高效生产
- 新一代SiC缺陷检测机助力高效生产随着科技的不断进步和应用的不断拓展，人们对于材料质量的要求也越来越高。在半导体材料领域，碳化硅（SiC）材料由于其优异的物理和化学特性，被广泛应用于电力电子、光电子和...
07-28
2023
- 晶圆表面形貌测试仪的研发与应用
- 晶圆表面形貌测试仪的研发与应用随着半导体技术的不断发展，晶圆表面形貌测试仪作为一种重要的表面检测设备，日益受到人们的关注。它可以对晶圆表面的形貌进行精确的测量和分析，为半导体生产过程提供重要的数据支持...
07-28
2023
- 如何进行电阻率测试？
- 电阻率测试是电工学中的一项重要实验，用于测量材料的电阻率。电阻率是材料对电流的阻碍程度的量化指标，是描述材料导电性能的重要参数之一。本文将介绍如何进行电阻率测试。首先，进行电阻率测试需要准备以下实验器...
07-27
2023
- 金属薄膜厚度测试设备
- 金属薄膜厚度测试设备金属薄膜厚度测试设备是一种用于测量金属薄膜厚度的专用仪器。随着科技的发展，金属薄膜在许多领域得到了广泛应用，如电子、光学、材料科学等。而金属薄膜的厚度是其性能和应用效果的重要指标之...
07-27
2023
- 化合物半导体缺陷检测设备的应用及发展
- 化合物半导体缺陷检测设备的应用及发展随着半导体技术的不断发展，化合物半导体材料逐渐成为半导体行业的重要组成部分。然而，化合物半导体材料由于其特殊的物理和化学性质，常常存在着各种缺陷。这些缺陷会严重影响...
07-27
2023
- 氮化镓表面缺陷检测设备——优化氮化镓材料质量的关键工具
- 氮化镓（GaN）材料作为一种半导体材料具有广泛的应用前景，但其质量问题一直是制约其应用的主要障碍之一。随着氮化镓材料在LED照明、电力电子和无线通信等领域的应用日益广泛，对其质量和表面缺陷的检测要求也...
07-27
2023
- 化合物半导体缺陷检测方法研究及应用探索
- 化合物半导体缺陷检测方法研究及应用探索摘要：化合物半导体材料在电子器件制备中具有广泛的应用前景，但其自身晶体结构的不完美和缺陷问题严重影响了材料的性能和器件的稳定性。因此，针对化合物半导体材料的缺陷检...
07-27
2023
- 高效可靠的GaAs缺陷检测技术
- 高效可靠的GaAs缺陷检测技术近年来，随着半导体材料在电子器件中的广泛应用，对材料质量和性能的要求越来越高。其中，GaAs材料作为一种广泛应用于光电子和微电子领域的重要材料，其质量和缺陷情况对器件性能...
07-27
2023
