07-25

2023

外延表面缺陷检测标准：确保质量的关键措施

外延表面缺陷检测标准：确保质量的关键措施外延表面缺陷是指在外延生长过程中，晶体表面出现的各种缺陷，如裂纹、氧化物、坑洞等。这些缺陷严重影响了外延片的质量和性能，因此对其进行有效的检测和控制是确保质量的...

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2023

晶圆表面缺陷检测设备：精准探测晶圆表面缺陷的技术利器

晶圆表面缺陷检测设备：精准探测晶圆表面缺陷的技术利器晶圆是半导体工业中不可或缺的重要材料，它在集成电路制造过程中扮演着至关重要的角色。然而，晶圆的生产过程中难免会出现各种表面缺陷，如划痕、裂纹、磨痕等...

07-25

2023

“瞩目登场：’lumina AT2-U’亮相中国市场”

瞩目登场：\'lumina AT2-U\'亮相中国市场近日，作为全球领先的电动汽车制造商，lumina公司的全新车型\'AT2-U\'正式亮相中国市场，引起了广泛关注。作为一款旗舰级别的SUV车型，\...

07-25

2023

碳化硅表面缺陷检测技术研究

碳化硅是一种重要的半导体材料，具有广泛的应用前景。然而，碳化硅材料的表面缺陷严重影响其性能和可靠性。因此，碳化硅表面缺陷的检测技术成为研究的热点之一。本文将对碳化硅表面缺陷检测技术进行探讨和研究。首先...

07-25

2023

金属薄膜厚度测试

金属薄膜厚度测试是一项重要的物理实验技术，用于测量金属薄膜的厚度。金属薄膜广泛应用于电子器件、光学元件、表面涂层等领域，因此准确地测量金属薄膜的厚度对于保证产品质量和性能具有重要意义。金属薄膜厚度测试...

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2023

晶圆表面缺陷检测设备商——优质晶圆表面缺陷检测设备供应商推荐

晶圆表面缺陷检测设备是半导体制造过程中关键的设备之一，它可以帮助制造商发现和排除晶圆表面的缺陷，确保产品质量达到要求。在市场上，有许多供应商提供晶圆表面缺陷检测设备，但是要选择一家优质的供应商并不容易...

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2023

电阻率测试仪：精准测量电材料的导电性能

电阻率测试仪：精准测量电材料的导电性能电阻率是电材料的一个重要物理特性，它反映了材料导电的能力。电阻率测试仪是一种用于测量材料电阻率的仪器设备，它能够精准地测量导电材料的导电性能。电阻率测试仪的工作原...

07-25

2023

新一代SiC缺陷检测设备助力材料质量提升

新一代SiC缺陷检测设备助力材料质量提升近年来，随着科技的不断发展，新一代的硅碳化物（SiC）材料在各个领域中的应用日趋广泛。然而，由于其制备过程中存在一些困难，SiC材料中常常会出现缺陷，这对其性能...

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2023

外延表面缺陷检测标准：保障外延材料质量的重要指导

外延表面缺陷检测标准：保障外延材料质量的重要指导外延材料作为半导体行业中的关键材料之一，其质量直接影响着芯片性能和可靠性。而外延表面缺陷是影响外延材料质量的一个重要因素。因此，建立一套科学合理的外延表...