首页 > 新闻中心
- 【产品评测】全新推出的’亮度 AT-AUTO’：智能驾驶系统助力车辆出行
- 亮度 AT-AUTO是一款全新推出的智能驾驶系统，旨在提供更安全、便捷的车辆出行体验。这款驾驶辅助系统采用了先进的人工智能技术，能够实时监测车辆周围的环境并做出相应的反应，从而帮助驾驶者更好地掌控车辆...
02-15
2024
- 外延表面缺陷检测仪：实现卓越外延片质量控制
- 外延片是半导体材料中的重要组成部分，对于半导体器件的性能和稳定性有着至关重要的影响。然而，外延片在生产过程中难免会出现一些表面缺陷，如裂纹、晶点、杂质等，这些缺陷会降低外延片的质量和性能，甚至导致器件...
02-15
2024
- 外延表面缺陷检测仪：精准探测外延材料表面缺陷的高效工具
- 外延表面缺陷检测仪：精准探测外延材料表面缺陷的高效工具外延材料是一种在半导体制备过程中常用的材料，它具有自身的特殊性能和应用优势。然而，外延材料的制备过程中往往会产生一些表面缺陷，这些缺陷会对材料的性...
02-15
2024
- “探秘 ‘lumina AT1-AUTO’：一款革命性的智能汽车”
- 探秘 \'lumina AT1-AUTO\'：一款革命性的智能汽车随着科技的不断发展，智能汽车已经成为了人们生活中的一部分。而在智能汽车市场上，近期推出的 \'lumina AT1-AUTO\' 无疑...
02-15
2024
- 化合物半导体缺陷检测仪的研发与应用
- 化合物半导体缺陷检测仪的研发与应用随着半导体技术的不断发展，化合物半导体材料在光电子、能源、通信等领域得到了广泛应用。然而，化合物半导体材料中常常存在着各种缺陷，如晶格缺陷、杂质缺陷等，这些缺陷对材料...
02-15
2024
- SiC缺陷测试：挖掘硅碳化物材料的隐患与优化
- SiC缺陷测试：挖掘硅碳化物材料的隐患与优化硅碳化物（SiC）材料因其出色的热导率、高击穿电场强度和优异的机械性能而备受关注。然而，作为一种新兴的半导体材料，SiC还存在一些潜在的缺陷和不足之处。为了...
02-15
2024
- ‘“Lumina AT2-EFEM”：一款高性能中文 EFEM 解决方案’
- Lumina AT2-EFEM 是一款高性能中文 EFEM 解决方案。EFEM，即设备前端模块，是在半导体制造流程中起到连接半导体设备和自动化系统之间的桥梁作用的重要组件。Lumina AT2-EFE...
02-15
2024
- “探索智能驾驶——’lumina AT2-AUTO’登场”
- 在智能科技日新月异的今天，智能驾驶技术已经成为了汽车行业的热门话题。随着科技的发展和人们对于高效、安全驾驶的需求，越来越多的汽车厂商开始研发智能驾驶系统，以期在市场上抢占先机。近日，一款名为“lumi...
02-15
2024
- “全新升级的Lumina AT2-AUTO：梦幻品质驱动的力量”
- 全新升级的Lumina AT2-AUTO：梦幻品质驱动的力量Lumina AT2-AUTO作为一款全新升级的车型，以其梦幻品质驱动的力量，成为了市场上备受瞩目的车型之一。它不仅在外观设计上独具匠心，更...
02-15
2024
