首页 > 新闻中心
- 《光芒AT2：引领未来的新一代科技》
- 《光芒AT2：引领未来的新一代科技》光芒AT2是一款引领未来的新一代科技产品，它以其强大的性能和先进的技术，成为了全球科技行业的焦点。无论是在通信、医疗、智能家居还是工业生产领域，光芒AT2都能够发挥...
07-20
2023
- 碳化硅缺陷检测机：实现无缺陷检测的技术突破
- 碳化硅缺陷检测机：实现无缺陷检测的技术突破碳化硅是一种具有广泛应用前景的新一代半导体材料，具有优异的热导率、电导率和机械性能。然而，碳化硅材料常常存在各种缺陷，如晶格缺陷、界面缺陷和气孔等，这些缺陷可...
07-20
2023
- “朗迷纳 AT1-EFEM：照亮你美好的未来”
- 朗迷纳AT1-EFEM：照亮你美好的未来随着科技的不断进步，家居照明也迎来了全新的时代。作为一家专注于研发创新照明产品的公司，朗迷纳（LAMINA）在这个领域中脱颖而出，推出了一款名为AT1-EFEM...
07-20
2023
- 三代化合物半导体表面缺陷检测
- 三代化合物半导体是一类具有广阔应用前景的新型材料，其表面缺陷对器件性能具有重要影响。因此，对三代化合物半导体表面缺陷的检测显得尤为重要。本文将介绍目前常用的三代化合物半导体表面缺陷检测方法。首先，最常...
07-20
2023
- 新一代SiC缺陷检测设备助力半导体行业质量提升
- 新一代SiC缺陷检测设备助力半导体行业质量提升近年来，随着科技的不断发展，半导体材料也得到了广泛的应用和研究。在半导体材料中，碳化硅（SiC）作为一种新型材料，具有高温、高频、高压等特殊性能，因此在汽...
07-20
2023
- 外延表面缺陷检测技术的研究与应用
- 外延表面缺陷检测技术的研究与应用摘要：外延表面缺陷检测技术是半导体制造中不可或缺的一环。本文主要探讨了外延表面缺陷检测技术的研究现状和应用前景，包括目前主流的检测方法、技术特点以及存在的问题和挑战。通...
07-20
2023
- “探索未知之光：’lumina AT1’带你走进未来”
- 探索未知之光：\'lumina AT1\'带你走进未来随着科技的飞速发展，人们对未来的探索和期待也变得越来越强烈。在这个充满无限可能的时代，\'lumina AT1\'作为一款具有前瞻性的科技产品，正...
07-20
2023
- 晶圆表面缺陷检测设备原理解析
- 晶圆表面缺陷检测设备原理解析晶圆表面缺陷检测设备是半导体制造过程中非常重要的一种设备，它能够对晶圆表面的缺陷进行快速、准确地检测，保证产品质量。本文将对晶圆表面缺陷检测设备的原理进行详细解析。晶圆表面...
07-20
2023
- 晶圆表面缺陷检测设备商：高精度晶片检测技术成就行业领先
- 晶圆表面缺陷检测设备商：高精度晶片检测技术成就行业领先随着科技的不断进步和应用领域的拓展，晶片的需求量也在不断增加。而晶片的质量和可靠性则成为了一个重要的考量因素。为了保证晶片的质量，检测技术变得尤为...
07-20
2023
