首页 > 新闻中心
- ‘全新升级！’lumina AT2-EFEM’ 引领智能助力未来’
- 全新升级！\'lumina AT2-EFEM\' 引领智能助力未来智能科技正深刻改变着我们的生活方式，而在这个飞速发展的时代，汽车行业也不例外。近日，知名汽车制造商lumina推出了全新升级的智能辅助...
02-09
2024
- ‘鲁米娜 AT1-EFEM：打造亮丽明亮的照明效果’
- 鲁米娜 AT1-EFEM：打造亮丽明亮的照明效果近年来，照明行业发展迅猛，人们对于照明产品的需求也在不断增加。在这样的背景下，鲁米娜推出了一款名为AT1-EFEM的照明产品，以其亮丽明亮的照明效果成为...
02-09
2024
- 衬底表面缺陷检测仪的革新性技术助力生产质量提升
- 衬底表面缺陷检测仪的革新性技术助力生产质量提升当前，随着科技的不断发展和制造业的快速进步，生产质量的提升成为企业发展的关键。而在电子制造业中，衬底表面缺陷的检测被认为是至关重要的环节。衬底表面缺陷往往...
02-09
2024
- 二代半导体缺陷检测仪器：技术创新助力产业升级
- 二代半导体缺陷检测仪器：技术创新助力产业升级随着半导体行业的快速发展，对于半导体产品的质量要求也越来越高。而半导体的缺陷问题一直是制约产业发展的重要因素之一。为了解决这一问题，二代半导体缺陷检测仪器应...
02-09
2024
- “卢米纳AT2-EFEM: 全新一代半导体设备自动化系统助力工业智能化产业升级”
- 卢米纳AT2-EFEM: 全新一代半导体设备自动化系统助力工业智能化产业升级近年来，随着人工智能、物联网和大数据技术的快速发展，工业智能化已经成为全球制造业的一大趋势。作为先进制造业中的重要组成部分，...
02-09
2024
- 外延表面缺陷检测仪：高效精准保障外延制备质量
- 外延表面缺陷检测仪：高效精准保障外延制备质量在半导体材料制备过程中，外延技术是一种常用的方法，用于在单晶衬底上生长具有特定结构和性质的晶体薄膜。外延薄膜的质量对于半导体器件的性能和可靠性具有至关重要的...
02-09
2024
- 《TTV测试仪：检测产线中的关键装备》
- TTV测试仪是电子产线中的一种关键装备，用于测量半导体材料中的厚度、曲率和形貌等参数。本文将介绍TTV测试仪的工作原理、应用范围以及在产线中的重要性。TTV测试仪是一种非接触式的测试设备，通过激光干涉...
02-09
2024
- 《TTV测试仪：提升产品质量核心技术的中文突破》
- 《TTV测试仪：提升产品质量核心技术的中文突破》随着科技的不断发展，人们对于产品质量的要求也越来越高。在电子产品领域，尤其是半导体工业中，TTV（Total Thickness Variation）测...
02-09
2024
- 新一代SiC缺陷检测仪：实时高效识别SiC材料缺陷的中文智能装备
- 新一代SiC缺陷检测仪：实时高效识别SiC材料缺陷的中文智能装备近年来，随着电力电子领域的快速发展，碳化硅（SiC）材料作为一种理想的替代品，正逐渐在功率器件和光电器件等领域得到广泛应用。然而，SiC...
02-09
2024
